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導體/半導體/緣粉末電阻率測試方法

發(fā)布時間：2020-03-11 閱讀：1231次

導體/半導體/緣粉末電阻率測試方法

粉末按照導電程度可以和固體材料一樣，劃分為導體粉末、半導體粉末、緣粉末三種性質(zhì)，這些性質(zhì)決定了不同的測量儀器和測量方法

一.導體粉末電阻率測試方法-四端法

測量導體電阻率的方法是通過一對引線強制電流流過樣品，用另一對引線測量其電壓降來決定已知幾何尺寸的樣品的電阻。雖然，測量電阻率使用的具體方法決定于樣品的大小和形狀。但是所有的方法都需要使用靈敏的電壓表和電流源或微歐姆計來進行測量，因為要測量的電阻一般都非常小。

根據(jù)樣品的橫截面積和電壓表引線之間的距離計算出電阻率：

其中：ρ=以厘米-歐姆為單位的電阻率；V=電壓表測量的電壓；I=電流源電流；A=以厘米2為單位的樣品的橫截面積(w×t) ；L=以厘米為單位的電壓表引線之間的距離。

為了補償熱電動勢的影響，在正向測試電流之下得到一個電壓讀數(shù)，再在負向測試電流之下得到另一個電壓讀數(shù)。將這兩個電壓讀數(shù)的值進行平均，并將其用在公式的VI中。大多數(shù)材料都具有很大的溫度系數(shù)，所以一定要將樣品保持在已知的溫度之下進行測試。

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