FT-330 GB/T 1551-2009四探針電阻率測試儀
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FT-330 GB/T 1551-2009四探針電阻率測試儀的詳細(xì)資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀
一. 描述: 采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀 硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀 適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動測量和系數(shù)補償,并帶有溫度補償功能,自動轉(zhuǎn)換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數(shù)據(jù),生成報表
FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀
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