FT-3110 系列全自動四探針測試儀
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FT-3110 系列全自動四探針測試儀的詳細資料 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-3110系列全自動四探針測試儀 一.功能描述: 四點探針法,全自動化運行測量系統(tǒng),PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理;參照A.S.T.M 標準方法測試半導體材料電阻率和方塊電阻;可設定探針壓力值、測試點數(shù)、多種測量模式選擇;可顯示:方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標準校準電阻件. 報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析.
FT-3110系列全自動四探針測試儀
晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量;選擇性發(fā)射極擴散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結擴散片;新型電極設計,如電鍍銅電阻測量等;半導體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
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